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Microscopio de Fuerza Atómica AFM y LFM

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    Especificaciones:

    • Funciones: Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopio de Fuerza Lateral (LFM).
    • Resolución: AFM 0.26 mm lateral, 0,1 mm vertical.
    • Parámetros técnicos: X-Y escaneo 10 um, distancia Z 2 um, Pixeles de imagen: 128x128, 256x256, 512x512, 1024x1024, ángulo de escaneo: 0-360º, Frecuencia de escaneo: 0.1 – 100 Hz.
    • Electrónica: CPU 32-bit Procesador de señal digital (DSP) a 600 MHz de Texas Instruments. DAC rápido 16-bit, ADC rápido de 16 bit, 5 canales de alto voltaje. Interfaces de comunicación: 10M/100M Fast Ethernet.
    • Mecánica: Tamaño de la Muestra hasta 45 mm en diámetro 30 mm de espesor, auto acople con distancia de viaje de 30 mm y precisión de 50 mm.
    • Software: Software de control en línea y software de procesamiento de imagen para Windows.

    Especificaciones:

    • Funciones: Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopio de Fuerza Lateral (LFM).
    • Resolución: AFM 0.26 mm lateral, 0,1 mm vertical.
    • Parámetros técnicos: X-Y escaneo 10 um, distancia Z 2 um, Pixeles de imagen: 128x128, 256x256, 512x512, 1024x1024, ángulo de escaneo: 0-360º, Frecuencia de escaneo: 0.1 – 100 Hz.
    • Electrónica: CPU 32-bit Procesador de señal digital (DSP) a 600 MHz de Texas Instruments. DAC rápido 16-bit, ADC rápido de 16 bit, 5 canales de alto voltaje. Interfaces de comunicación: 10M/100M Fast Ethernet.
    • Mecánica: Tamaño de la Muestra hasta 45 mm en diámetro 30 mm de espesor, auto acople con distancia de viaje de 30 mm y precisión de 50 mm.
    • Software: Software de control en línea y software de procesamiento de imagen para Windows.