Microscopio de fuerza atómica Angstrom Advanced AA2000

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    Marca: Angstrom Advanced

    Modelo: AA2000

    Procedencia: Estados Unidos

    Año de Fabricación: 2019

    Características

    1. Alto rendimiento

    ·          Escala atómica de resolución.

    ·          Tamaño de muestra grande

    ·          DSP (Digital Signal Processing) para un gran rendimiento

    ·          Sistema operativo en tiempo real integrado

    ·          Conexión Fast Ethernet con la computadora.

    2. Multifunción

    ·          Microscopio de fuerza atómica (AFM)

    ·          Microscopio de fuerza lateral (LFM)

    ·          Análisis de fuerza: curva IV, curva IZ, curva de fuerza

    ·          Imagen 3D en tiempo real en línea para una mejor observación

    ·          Señales multicanal para más detalles de muestra

    ·          Trace-Retrace scan, Back-Forward scan

    ·          Multi-análisis: granularidad y rugosidad

    ·          Carga de datos para su posterior análisis.

    3. Operación fácil

    ·          Rápido automáticamente de punta

    ·          Cambio fácil del soporte de la punta, para un cambio simple entre STM y AFM

    ·          Control digital completo, reconocimiento automático del estado del sistema.

    ·          Muestra de movimiento basado en software.

    ·          Función de nano-película: recopilación, almacenamiento y reproducción continua de datos

    ·          Diseño modular para un mantenimiento conveniente y futuras actualizaciones.

    Especificaciones

    1. Funciones        

    ·          Microscopio de fuerza atómica (AFM)

    ·          Microscopio de fuerza lateral (LFM)

    2. Resolución      

    ·          AFM: 0.26nm lateral, 0.1nm vertical

    3. Parámetros técnicos      

    ·          Alcance de escaneo XY: ~ 10 micrómetros

    ·          Distancia Z: ~ 2 micrómetros

    ·          Píxeles de imagen: 128X128, 256X256, 512X512, 1024X1024

    ·          Ángulo de escaneo: 0 ~ 360 grados

    ·          Velocidad de escaneo: 0.1 ~ 100Hz

    4. Electrónica       

    ·          CPU: Procesador de señal digital (DSP) de 32 bits a 600 MHz de Texas Instruments;

    ·          Fast16-bit DAC

    ·          Fast16-bit ADC

    ·          Alto voltaje: 5 canales

    ·          Interfaz de comunicación: 10M / 100M Fast Ethernet

    5. Mecánica          

    ·          Tamaño de la muestra: hasta 45 mm de diámetro, alcance 15 mm cuando use un AA2000

    ·          Compromiso: acoplamiento automático con una distancia de recorrido de 30 mm y una precisión de 50 nm

    6. Software           

    ·          Software de control en línea y software de procesamiento de imágenes fuera de línea

                    

    Marca: Angstrom Advanced

    Modelo: AA2000

    Procedencia: Estados Unidos

    Año de Fabricación: 2019

    Características

    1. Alto rendimiento

    ·          Escala atómica de resolución.

    ·          Tamaño de muestra grande

    ·          DSP (Digital Signal Processing) para un gran rendimiento

    ·          Sistema operativo en tiempo real integrado

    ·          Conexión Fast Ethernet con la computadora.

    2. Multifunción

    ·          Microscopio de fuerza atómica (AFM)

    ·          Microscopio de fuerza lateral (LFM)

    ·          Análisis de fuerza: curva IV, curva IZ, curva de fuerza

    ·          Imagen 3D en tiempo real en línea para una mejor observación

    ·          Señales multicanal para más detalles de muestra

    ·          Trace-Retrace scan, Back-Forward scan

    ·          Multi-análisis: granularidad y rugosidad

    ·          Carga de datos para su posterior análisis.

    3. Operación fácil

    ·          Rápido automáticamente de punta

    ·          Cambio fácil del soporte de la punta, para un cambio simple entre STM y AFM

    ·          Control digital completo, reconocimiento automático del estado del sistema.

    ·          Muestra de movimiento basado en software.

    ·          Función de nano-película: recopilación, almacenamiento y reproducción continua de datos

    ·          Diseño modular para un mantenimiento conveniente y futuras actualizaciones.

    Especificaciones

    1. Funciones        

    ·          Microscopio de fuerza atómica (AFM)

    ·          Microscopio de fuerza lateral (LFM)

    2. Resolución      

    ·          AFM: 0.26nm lateral, 0.1nm vertical

    3. Parámetros técnicos      

    ·          Alcance de escaneo XY: ~ 10 micrómetros

    ·          Distancia Z: ~ 2 micrómetros

    ·          Píxeles de imagen: 128X128, 256X256, 512X512, 1024X1024

    ·          Ángulo de escaneo: 0 ~ 360 grados

    ·          Velocidad de escaneo: 0.1 ~ 100Hz

    4. Electrónica       

    ·          CPU: Procesador de señal digital (DSP) de 32 bits a 600 MHz de Texas Instruments;

    ·          Fast16-bit DAC

    ·          Fast16-bit ADC

    ·          Alto voltaje: 5 canales

    ·          Interfaz de comunicación: 10M / 100M Fast Ethernet

    5. Mecánica          

    ·          Tamaño de la muestra: hasta 45 mm de diámetro, alcance 15 mm cuando use un AA2000

    ·          Compromiso: acoplamiento automático con una distancia de recorrido de 30 mm y una precisión de 50 nm

    6. Software           

    ·          Software de control en línea y software de procesamiento de imágenes fuera de línea