Marca: Angstrom Advanced
Modelo: AA2000
Procedencia: Estados Unidos
Año de Fabricación: 2019
Características
1. Alto rendimiento
· Escala atómica de resolución.
· Tamaño de muestra grande
· DSP (Digital Signal Processing) para un gran rendimiento
· Sistema operativo en tiempo real integrado
· Conexión Fast Ethernet con la computadora.
2. Multifunción
· Microscopio de fuerza atómica (AFM)
· Microscopio de fuerza lateral (LFM)
· Análisis de fuerza: curva IV, curva IZ, curva de fuerza
· Imagen 3D en tiempo real en línea para una mejor observación
· Señales multicanal para más detalles de muestra
· Trace-Retrace scan, Back-Forward scan
· Multi-análisis: granularidad y rugosidad
· Carga de datos para su posterior análisis.
3. Operación fácil
· Rápido automáticamente de punta
· Cambio fácil del soporte de la punta, para un cambio simple entre STM y AFM
· Control digital completo, reconocimiento automático del estado del sistema.
· Muestra de movimiento basado en software.
· Función de nano-película: recopilación, almacenamiento y reproducción continua de datos
· Diseño modular para un mantenimiento conveniente y futuras actualizaciones.
Especificaciones
1. Funciones
· Microscopio de fuerza atómica (AFM)
· Microscopio de fuerza lateral (LFM)
2. Resolución
· AFM: 0.26nm lateral, 0.1nm vertical
3. Parámetros técnicos
· Alcance de escaneo XY: ~ 10 micrómetros
· Distancia Z: ~ 2 micrómetros
· Píxeles de imagen: 128X128, 256X256, 512X512, 1024X1024
· Ángulo de escaneo: 0 ~ 360 grados
· Velocidad de escaneo: 0.1 ~ 100Hz
4. Electrónica
· CPU: Procesador de señal digital (DSP) de 32 bits a 600 MHz de Texas Instruments;
· Fast16-bit DAC
· Fast16-bit ADC
· Alto voltaje: 5 canales
· Interfaz de comunicación: 10M / 100M Fast Ethernet
5. Mecánica
· Tamaño de la muestra: hasta 45 mm de diámetro, alcance 15 mm cuando use un AA2000
· Compromiso: acoplamiento automático con una distancia de recorrido de 30 mm y una precisión de 50 nm
6. Software
· Software de control en línea y software de procesamiento de imágenes fuera de línea