Especificaciones
Planitud de línea de base
±0,001 A, 200–800 nm, 1,0 nm SBW, suavizado
Tipo de detector
Fotodiodos duales de silicio
fuente de luz
Destello de xenon
Ancho de banda espectral
Variable: 1,0 nanómetro, 2,0 nanómetro
rango de onda
190 a 1100nm
Requisitos electricos
100/240 V, 50/60 Hz seleccionado automáticamente, 150 W máximo
Ruido
0A: ≤0.00015A
1A: ≤0.00025A
2A: ≤0.00050A
260nm, 1,0nm SBW, RMS
Pruebas de cumplimiento de la farmacopea
Precisión fotométrica (60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A
Luz parásita: ≤1%T a 198 nm: KCI; ≤0,05%AT a 220 nm: Nal, Kl
Precisión de longitud de onda: ±0,5 nm Líneas de emisión de 541,9, 546,1 nm Hg, rango completo de ±0,8 nm
Repetibilidad de longitud de onda: ≤0,05 nm, exploración repetitiva de la línea de emisión de 546,1 nm Hg
pantalla fotometrica
-0,3 a 4,0 A
Repetibilidad fotométrica
1 A: ±0,0002 A
Velocidad de escaneo
<1 a 6000nm/min. (Variable)
potencia
150 W máx.
Intervalo de datos de longitud de onda
10, 5, 2, 1,0, 0,5, 0,2, 0,1 nm
Descripcion
Espectrofotómetro UV-Vis Evolution One Plus
Dimensiones (L x An x Al)
593 x 475 x 266 mm (23,3 x 18,7 x 10,6 pulgadas)
linea de producto
Evolución uno más
escribe
Espectrofotómetro UV-Vis
derivado
<0,0005 A/h, 500 nm, 1,0 nm SBW, 1 h calentamiento
Vida útil de la lámpara
>5 años o más si no usa señal en vivo
Diseño Óptico
Microcelda AFBG optimizada; AFBG Fibra óptica optimizada; Materiales AFBG optimizados
Precisión fotométrica
1 A: ±0,004 A, 2 A: ±0,008 A, medido a 440 nm filtros usando densidad neutra trazables a NIST
Rango fotométrico
>3,5A
Escanear modos de ordenadas
Absorbancia, % Transmitancia, % Reflectancia, Kubelka-Munk, log (1/R), log (Abs), Abs*Factor, Intensidad
Precisión de longitud de onda
±0,5 nm (líneas de mercurio de 541,9, 546,1 nm), ±0,8 nm (rango completo de 190 a 1100 nm)
Repetibilidad de longitud de onda
≤0,05 nm (línea de mercurio de 546,1 nm, SD de 10 captación)
Peso (metrico)
14,5kg