Especificaciones:
Planitud de la línea base ±0,001 A, 200–800 nm, 1,0 nm SBW, suavizado
Tipo de detector Fotodiodos de silicio duales
fuente de luz flash de xenon
Ancho de banda espectral 1 nanómetro
Rango de longitud de onda 190 a 1100 nm
Requisitos eléctricos 100/240 V, 50/60 Hz seleccionados automáticamente, 150 W máximo
Ruido
0A: ≤0,00015A
1A: ≤0,00025A
2A: ≤0,00050A
260 nm, 1,0 nm SBW, RMS<
Pruebas de cumplimiento de la farmacopea Precisión fotométrica (60 mg/L K2Cr2O7): ±0,010
A Luz dispersa: ≤1 % Ta 198 nm: KCI; ≤0,05 % A 220 nm: Nal, Kl
Precisión de longitud de onda: ±0,5 nm 541,9, 546,1 nm Hg líneas de emisión, ±0,8 nm rango completo
Repetibilidad de longitud de onda: ≤0,05 nm, escaneo repetitivo de línea de emisión de 546,1 nm Hg
Pantalla fotométrica -0,3 a 4,0 A
Repetibilidad fotométrica 1A: ±0,0002A
Velocidad de escaneo <1 a 6000 nm/min. (Variable)
potencia 150 W máx.
Intervalo de datos de longitud de onda 10, 5, 2, 1,0, 0,5, 0,2, 0,1 nanómetro
peso (inglés) 32 libras.
Descripción Espectrofotómetro UV-Vis Evolution One
Dimensiones (largo x ancho x alto) 593 x 475 x 266 mm (23,3 x 18,7 x 10,6 pulgadas)
Línea de productos Evolución Uno
tipo Espectrofotómetro UV-Vis
derivación <0,0005 A/h, 500 nm, 1,0 nm SBW, 1 hora de calentamiento
Vida útil de la lámpara >5 años o más si no se utiliza señal en vivo
Diseño óptico Monocromador Czerny-Turner de doble haz con posiciones de cubeta de muestra y referencia
Precisión fotométrica 1 A: ±0,004 A, 2 A: ±0,008 A, medido a 440 nm utilizando filtros de densidad neutra trazables al NIST
rango fotométrico >3,5A
Modos de ordenadas de escaneo Absorbancia, % Transmitancia, % Reflectancia, Kubelka-Munk, log (1/R), log (Abs), Abs*Factor, Intensidad
Precisión de la longitud de onda ±0,5 nm (líneas de mercurio de 541,9, 546,1 nm), ±0,8 nm (rango completo de 190 a 1100 nm)
Repetibilidad de longitud de onda ≤0,05 nm (línea de mercurio de 546,1 nm, DE de 10 mediciones)
Peso (métrico)n14,5 kilos